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閱讀次數(shù)：2583 發(fā)布時(shí)間：2017/9/20 11:08:58
盡管顆粒形狀能被假設(shè)為規(guī)則的幾何形，但是絕大多數(shù)的情況下它是不規(guī)則的，只不過(guò)目前流行的粒度測(cè)量方法是基于“等效球體積”。如果試圖利用粒度測(cè)量方法（包括激光衍射法、光散射法、電域敏感法、沉降法、透過(guò)法、篩分法和電子顯微鏡法）測(cè)量比表面，由于粒形、表面的不規(guī)則及孔隙度的影響，其結(jié)果會(huì)比真值嚴(yán)重偏小，甚至相差 1000 倍以上。因此，由粒徑計(jì)算表面積只能通過(guò)球形或其它規(guī)則幾何形狀的絕對(duì)假設(shè)建立一個(gè)低限值。原創(chuàng)作者：貝士德儀器科技（北京）有限公司
