低溫氮吸附法測比表面的下限，一般是1m 2/g樣品管中的氣體吸附質的體積（標準態(tài)）減去樣品管中未被吸附的氣體的體積（標準態(tài)）。在用氮作吸附質的情況下，對比表面積很小的樣品，吸附量的測定將導致很大的誤差。因為，此時吸附量很小，而在液氮溫度下作為吸附質的氮飽和蒸氣壓與大氣壓相近，所以，在實驗范圍的一定相對壓力下，達到吸附平衡后殘留在樣品管中的氮氣量仍然很大，與*初轉移到樣品管中（未吸附之前）的總氮量相差無幾，不容易測準。氪吸附法的優(yōu)點就是在液氮溫度下氪的飽和蒸氣壓只 2 毫米汞柱左右，所以，在吸附等溫線的測定范圍內，達到吸附平衡后殘留在死空間中的未被吸附的氪氣量變化就會很大，可以測得準確，因此氪氣適合于低比表面固體的測定。
原創(chuàng)作者：貝士德儀器科技（北京）有限公司
